小心慎重使用钽电容 看到tengjingshu的电容*了，我也想就一些问题给予一些补充，因为这玩意是很危险的，先上图一张。
这是在网上收集到的*的一幕，钽电容*了，它会发明火，所以很多厂家都不用了。
钽电容的三大罪状：1.固钽因“不断击穿”又“不断自愈”问题产生失效。
在正常使用一段时间后常发生固钽密封口的焊锡融化，或见到炸开，焊锡乱飞到线路板上。
分析原因是其工作时“击穿”又“自愈”，在反复进行，导致漏电流增加。
这种短时间(ns～ms)的局部短路，又通过“自愈”后恢复工作。
关于“自愈”。
理想的Ta2O5介质氧化膜是连续性的和一致性的。
加上电压或高温下工作时，由于TＡ＋离子疵点的存在，导致缺陷微区的漏电流增加，温度可达到500℃～1000℃以上。
这样高的温度使MnO2还原成*的Mn3O4。
有人测试出Mn3O4的电阻率要比MnO2高4～5个数量级。
与Ta2O5介质氧化膜相紧密接触的Mn3O4就起到电隔离作用，防止Ta2O5介质氧化膜进一步破坏，这就是固钽的局部“自愈了”。
但是，很可能在紧接着的再一次“击穿”的电压会比*次的“击穿”电压要低一些。
在每次击穿之后，其漏电流将有所增加，而且这种击穿电源可能产生达到安培级的电流。
同时电容器本身的储存的能量也很大，导致电容器*失效。
2.固钽有“热致失效”问题固钽的Ta2O5介质氧化膜有单向导电性能，当有充放大电流通过Ta2O5介质氧化膜，会引起发热失效。
无充放大电流时，介质氧化薄相当稳定，微观其离子排列不规则、无序的，称作无定形结构。
目测呈现的颜色是五彩干涉色。
当无定形结构向定形结构逐步转化，逐步变为有序排列，称之微“晶化”，目测呈现的颜色不再是五彩干涉色，而是无光泽、较暗的颜色。
Ta2O5介质氧化薄膜的“晶化”疏散的结构导致钽电容器性能恶化直至击穿失效。
3.固钽有“场致失效”问题（dV/dT）。
固钽加上高的电压，内部形成高的电场，易于局部击穿。
击穿事故发生率随时间减低到一个稳定值。
当击穿电压被接近时，击穿发生率增加。
随着电压的增长，装置因在某个疵点发生的热*而发生故障的机率也增加。
击穿电压依赖于脉冲的持续。
在某些实验中，可以看到击穿电压随着脉冲长度的增加而降低。
该过程不是十分确定的；击穿以不定时间间隔出现在不定位置。
在反模式下，*穿是由于焦耳热产生的热击穿的**终状态。
电容如果选择不当的话，当电容失效后就会短路，一般的话，有两个可以考虑，作为生产厂商，如果一定要失效之后是开路状态的话，可以考虑内部有保险丝的系列，通过的电压和电流都是有胆电容内部的保险丝所决定的。
所以它失效后会是一个开路的模式，还有客户在选型的时候，一定要考虑到足够多的余量在里边，如果在正常的工作电压使用的情况下是非常的可靠的。
钽电压在工业电子，汽车电子，至少需要降额50%使用。
另外潮湿也会对电容的ESR起到很大的变化。
变化测试：其机理如下图所示：一句话：慎重使用钽电容。
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