*-超高速高精度激光位移传感器HL-C2特点:1.HDLC-CMOS传感器为HL-C2系列开发了*的HDLC-CMOS传感器。
通过*的CMOS工艺技术和将*的信号处理电路集成于受光元件芯片上的“系统芯片”化技术，获得了高密度的受光元件和接近**限的处理速度。
突破性地实现了一般激光位移传感器难以达到的高分辨率和高速度。
HDLC：HighDensityLinearCell2.HiR透镜全新设计的**适合HDLC-CMOS传感器的高分辨率透镜。
采用本公司*的光学仿真技术，将像差降低到**小限度。
可将任何角度的光线在受光部以**小点成像，实现了更高的精度。
HiR：HighResolution3.MSGB*的光学配置和光圈结构，实现了发射强度接近理想的近似正态分布的*激光。
另外，通过在投光量调整功能中采用新的算法，可以瞬时跟踪受光量的变化，确保投光状态始终保持*。
MSGB：MicroSpotGaussianBeam4.超高速计算处理配备*的算法，可以在达到高精度的同时实现高速度。
所有信号都经过数字化高速处理。
5.传感器检测头■对应「扩散反射」&「正反射」根据工件表面，在很难选定**适合的传感器的场合。
即使是在这样的情况下，只有一台检测头情况下也可以保证安定的检测状态设置。
■受检工件容许倾斜的范围更宽与以往相比，对倾斜的容许度提高了1.5倍，即使测量时工件发生变动，也能轻松检测。
[HL-C203B(-MK)の場合]■省空间的小型检测头小型检测头，与本公司以往产品相比，体积比下降了约23%，可以将安装空间减小到**限程度。
[HL-C203B(-MK)の場合]6.控制器■可连接两个检测头可在控制器内对各个测量值进行计算。
■丰富的I/O可以连接各种设备，可以通过这些设备对记录的数据进行显示、分析处理，以及对传感器进行控制。
■无偿提供API(ApplicationProgrammingInterface)可以通过USB连接的电脑使用控制HL-C2的API。
还备有样品程序，有助于编程。
7.控制屏■受光量波形表示不仅可显示测量值，还可显示受光量波形。
■条件设定功能检测头功能及输出条件等显示在菜单上，可按顺序简单设定。
■测量数据显示功能可以简便地使传感器安装时的设定及投光量设定*化。
还可在面板上进行保持及计时等输入操作。
白色背光灯提高显示屏的可视性。
■备有各国语言显示型备有可显示日语、英语、中文、韩语显示型。
对应*用户需求。
种类型号名称日语显示HL-C2DP英语显示HL-C2DP-EX中文显示HL-C2DP-CH韩语显示HL-C2DP-KR8.智能监控■主界面可确认各种测定条件和状态、设定的界面，主监控器的Top菜单。
 2台检测头有两个输出，可以各自选择Tab和设定。
设定状态的界面左下方显示图例。
特别是检测透明物体时，可以清晰地从视觉上辨别检测面。
可在控制器中记录16个设定条件，并以一览表的形式显示。
可确认在多生产线上的工件的设定条件、在比较和检查**适合的设定时也相当便利。
■显示设定值显示设定值和各端子的的输出状态。
测量中发生警报，显示提示警报。
待机和重置等，也可通过界面上的按钮实现。
■受光量波形显示受光量、受光元件以元件单元表示。
同时*受光量的元件单元以数值显示、检测头设置时确认简便。
■缓冲器显示数据缓冲器连接功能、可读取在控制器中存储的数据、显示波形和数据。
此外、数据存储的方法和存储周期、存储数据量等都可在界面中设置。
新追加功能、以测量工件的边缘和形状的变化点为触发器存储数据。
无需界面操作和外部瞬间输入，有效的处理数据。
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