CB-100 亚微米电路/射频测试针座 特点： 亚微米工艺集成电路电路测试 可以配合同轴/三轴探针夹具使用 夹具可以30度范围倾仰 可以使用钨探 可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座 可以配合使用校准片和校准软件 探头接口和线缆45度连接，无需 L 型转接头 探头可以拆卸维修 带射频测试线固定装置 规格： X-Y-Z移动行程：12 x 12x 12mm 移动精度:0.7 微米 丝杠精度：100 Thread / Inch 射频测试能力：直流到 40GHz ~ 120GHz 固定方式：磁力翻转，带磁性开关 移动方式：线性移动，无后座力移动 尺寸:90长 x 130宽 x 90mm高 重量:700 克 附件：三轴探针夹具 同轴探针夹具 磁力底座 磁力翻转底座 真空底座 电动针座升级 射频探头 光纤探头 低电流/电容点测配件 高压配件 标签： 集成电路 射频针座 探针真空 磁性吸附 探针连接   集成电路电路测试探针座 射频针座 探针真空底座 磁性吸附探针座 探针连接器   深圳市探针座   深圳市探针座厂家

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