江苏一六仪器  X射线荧光光谱测厚仪  一次性同时分析：23层镀层，24种元素                           厚度**di检出限：0.005um性能优势精密的三维移动平台*的样品观测系统*的图像识别轻松实现深槽样品的检测四种微孔聚焦准直器，自动切换双重保护措施，实现无缝防撞采用大面积高分辨率*，有效降低检出限，提高测试精度全自动智能控制方式，一键式操作!开机自动退出自检、复位开盖自动退出样品台，测厚仪，升起Z轴测试平台，方便放样关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦直接点击全景或局部景图像选取测试点点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。
公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。
我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名*通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。
稳定的多道脉冲分析采集系统、*的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
一．磁吸力测量原理镀层厚度分析仪长久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。
利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。
鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用**广。
测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。
磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。
当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。
新型的产品可以自动完成这一记录过程。
不同的型号有不同的量程与适用场合。
这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，镀层厚度测量，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。
一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um选择Elite（一六仪器）X射线荧光镀层测厚仪理由：  根据IPC规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用Au，Pd，Ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且Pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，Elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以确保镀层测量的准确性。
2、采用微聚焦X射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。
微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行高精度测量。
3、Elite（一六仪器）WinFTM*软件，具有强大且界面友好、中英文切换，X光测厚仪，**多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。
采用基本参数法（FP），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，复合镀层测厚仪，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。
4、Elite（一六仪器）针对PCB（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。
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行路致远，砥砺前行。
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