产品介绍：产品型号：MX-1100产品品牌：美国Oakland参考价格：￥询价产地：美国详细说明：MX-1100       塑料薄膜和纸张测厚仪简介：     美国Oakland公司生产的多功能自动薄膜和纸张测厚仪MX-1100，既可单独使用，也可以和电脑连接。
可选配质量控制软件（QualityCo*olSoftware），以用于测量结果的分析和统计。
仪器特性：■操作简单三种操作模式：手动，数字和软件。
可外接打印机或第三方软件以显示分析图表和统计值。
■提供离散点测量和厚度轮廓测量测头可自动升降。
■丰富的扩展功能可外接打印机，电脑和专业软件。
塑料薄膜和纸张测厚仪MX-1100技术参数和规格详细参数可测样品所有的薄膜和薄片材料测量范围0-50mil，0-100mil，0-200mil，0-300mil或0-1270um，0-2540um，0-5080um，0-7620um或0-1.3mm，0-2.5mm，0-5.0mm，0-7.5mm或其他测量范围当订购公制单位时，请*um或mm显示行程（探头缩回高度）对应的测量范围加1270um-2540um分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0-200mil时；0.1mil或1um或0.001mm，量程在0-300mil时。
精度+/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm平行度+/-1.0um或更好测头尺寸直径4.3mm（薄膜）直径15.9mm（纸张）或针对其他材料的其他尺寸测头压力4.0-8.0psi（0.562kg/cm²），薄膜7.3psi（0.513kg/cm²），纸张或针对其他材料的其他设置循环速率20/分钟（40/分钟，可选），薄膜20/分钟（12/分钟，可选），纸张或针对其他材料的其他设置下落速率1mm/sec，纸张仪器尺寸（宽x长x高）25x25x28cm标准配置主机，标准厚度片，脚踏开关选配件打印机，质量控制软件（QualityCo*olSoftware）符合标准ASTMD374，TAPPIT-411，BS2782-6，Din53370   相关薄膜测厚仪产品介绍如下1.       SMX-BEN薄膜测厚仪--美国Solar 2.       CHY—U智能自动型薄膜测厚仪--国产3.       CH－1－S型薄膜测厚仪--国产4.       BMH-J3数显薄膜测厚仪--兰德梅克5.       CX-1000薄膜测厚仪和纸张测厚仪-美国Oakland6.       MX-1100塑料薄膜和纸张测厚仪-美国Oakland7.       CHY-CA测厚仪8.       CHY-C2薄膜、纸张测厚仪-PARAM博每 其它计量测试仪器卡尺/千分尺、推拉力计、显微镜、投影仪、电子天平、试验机、扭力计/扭矩仪、薄膜测厚仪、线缆测高仪、张力计、过程校验仪、手持测速仪标签：  深圳市塑料薄膜纸张测 深圳市塑料薄膜纸张测厂家广东深圳市深圳市塑料薄膜纸张测厂家供应MX-1100塑料薄膜-纸张测MX1100塑料薄膜纸张测