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供应塑料薄膜薄片测厚仪

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MC022系列薄膜测厚仪(CH-1-S)MC022系列薄膜测厚仪MC022系列(CH-1-S)一、CH-1-S型薄膜测厚仪概述:  CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、CH-1-S型薄膜测厚仪主要参数:1.量程：0-1mm分度值：0.001mm2.上测头曲率半径：15-50mm3.测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N4.测量精度：100vm以内＜1vm            100-250vm＜2vm            250vm＜3vm标签：  厦门市薄膜薄片测厚仪 厦门市薄膜薄片测厚仪厂家福建厦门市厦门市薄膜薄片测厚仪厂家供应塑料薄膜薄片测厚仪
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